Alba−STED FLIM／FSレーザ走査蛍光寿命イメージングシステム-グローバルベンダー

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Alba−STED FLIM／FSレーザ走査蛍光寿命イメージングシステム

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製品の詳細

概要

単分子測定定量細胞生物学器具。

誘導放出損失（STED）は回折限界よりも空間分解能が低い蛍光構造を観察できる強力な顕微鏡技術である。Alba STEDは、デジタル周波数領域蛍光寿命イメージング（FastFLIM）と組み合わせたパルス励起とパルス空乏法（pSTED）を用いて時間分解光子を記録し、画像解像度を向上させ、同じ励起波長を持つ2つのマーカーを分離することができる。

FLIM/FFSの主な特徴：

pSTED（パルス励起とパルスSTED）
FastFLIMを用いた時間分解pSTED収集
位相マップを使用した画像解像度の向上

ダブルラベル励起
高速画像収集（滞留時間：0.2µs）
高ダイナミックレンジ（信号最大6000万カウント/秒）

Alba STEDによるFLIM/FFSの測定：

1 pまたは2 p共焦点画像
FLIM蛍光寿命イメージング（FastFLIM）
PLIM、燐光寿命イメージング
偏光画像
蛍光波動スペクトル（FCS、FCCS、PCS、FLCS）
RICS、N&B、スキャンFCS
バースト解析
FRET効率測定

FLIM/FFS用Alba STED仕様

計器の特徴	各採取通路には個別のピンホールがありますピンホール可変開口のコンピュータ制御選択コンピュータ制御ピンホールのイメージング平面内の位置付け単一光子または多光子励起最大4チャネルのデータ収集カメラ補助ポート
収集と分析ソフトウェア	国際宇宙ステーションVistaVision
STEDレーザ	パルス、775 nm平均出力電力：1 W パルス幅：約600 ps 繰り返し周波数：0-100 MHz、または外部CLK ビーム品質：M²1.1未満、項目00 振幅ノイズ：<4.0%rms
励起レーザ	パルス、640 nmパルス幅（中出力）：40-90 ps 繰り返し周波数：20、50、80 MHz、または外部CLK 電力（50 MHz）：最大5 mW
レーザエミッタ	3、4、6レーザーモデル。光は単一モードファイバを介して顕微鏡に伝達される。
FastFLIM	4つの独立した入力信号ダイナミックレンジ：チャネルあたり最大1500万カウント/秒寿命範囲：ピコ秒～秒
けんびきょう	倒置または直立
ターゲット	20倍、40倍、60倍の倍率と1.5～8.1の動作距離を持つ空気対物レンズ油浸漬対物レンズ、1.4 NAと60 X（標準）、その他の使用可能な絞り水浸対物レンズ、1.2 NA 60 X（標準）、カバー付きスライド補正（0.15-0.18カバー用スライド）、その他の使用可能な穴
フェーズ	大距離移動（100 x 100 x 10 mm）ステッピングモータ制御XYZステージマイクロレンジ運動 XYZ圧力制御ステージ、100 x 100 x 50µm、ステップ分解能は5 nmである。
サンプルラック	びこうばんペトリ皿カバーガラス
光検出器	GaAs光電子増倍管（浜松H 7422 Pモデル）ハイブリッドPMT（浜松R 10467 Uモデル） SPAD
画像収集	FLIM収集：0.2µs滞在時間
オペレーティングシステム要件	Windows 10、64ビット
電源要件	汎用電源入力：110-240 V、50/60 Hz、400 VAC
寸法すんぽう	885 mm（長さ）x 600 mm（幅）x 330 mm（高さ）
じゅうりょう	40キロ

FLIM/FFSのAlba STED測定

FFS測定	蛍光相関スペクトル（単相関と相互相関）フォトンカウントヒストグラム（PCH）画像中の目標XYZ位置のFFS測定蛍光寿命相関スペクトルスキャンFCS 数量と輝度（N&B）ラスタ画像相関スペクトル（RICS）
シングルポイントモジュール測定	つよさぶんきょく動力学一生
イメージングモジュール測定（単平面とzスタック）	つよさぶんきょくひりつそくてい FLIM
FLIMイメージ（デジタル周波数領域）（シングルプレーンとzスタック）	デジタル周波数領域（DFD）で収集する。このプログラムはFLIM画像と定常状態画像を同時に収集する。
FLIMイメージ時間領域（シングルプレーンとzスタック）	時間依存単一光子計数（TCSPC）における収集
超解像度	誘導放出損失
単分子モジュール	バースト解析 FRETと関連方法 PIE-RET方法

FLIM/FFS Alba STED概略図

Alba STEDのFLIM/FFS測定例

FastFLIMで取得した固定コロイド細胞中のSiR色素で標識されたアクチンの共焦点（左）とpSTED（右）画像。

60 nm蛍光ビーズの共焦点画像（左）、pSTED画像（中央）、位相マップに基づく2値フィルタを用いてpSTED画像をシャープ化する（右）。

ダブルラベルは、pSTEDとFastFLIMを用いて分離することができる。Atto 647 NとAtto 655はラベルとして使用され、いずれも640 nmレーザーで励起されています。最初に2つの染料を位相マップを用いて分離し、次に2つの異なる偽色（Atto 647 N−イエロー、Atto 655−パープル）を割り当てて、2つのラベルの処理と合成pSTED画像を生成する。

Alba STEDはFLIM/FFSのオプションとアクセサリに適用されます

非スキャン検出（NDD）ポート

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非走査検出ポート（NDD）の検出による多光子励起との併用、レーザの励起点で発生した蛍光光子は散乱されて戻り、対物レンズの後に収集される（走査経路中の光学素子を通過しない）。

図は,AlbaにカップルされたNikon Model Ti画画像のNDDポートを表示しています.エピエフローレセンスポートの上のニコン显微鏡にNDDポートを接続し、NDD検出のための二酸性フィルターが插入されているフィルターカートリッジを追加するためにレーザーを導入します。検出器は,二角形およびフィルターホルダーで完全な正角形マウントに取り付けられています.NDDポートはGaAs PMTまたはハイブリッド検出器を使用します。検出器の出力はデータ取得ユニットに転送される。

レーザースキャン送信検出モジュールフォトンカウントPMT

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T-PMTは,逆鏡で動作する光子カウントPMTを備えた送信検出モジュールです.

モジュールは显微鏡伝送照明ランプの隣に設置され,PMTとランプ照明の間を選択するための手動スライダーを備えています.

显微鏡の段階

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マイクロウェルプレート（8、96、384ウェルプレート）用XYZステッパーモーター制御ステージ

XYZステージは,高解像度,高度に繰り返し可能で,急速な制御を提供します.それは滑らかで正確な動きのために交叉ローラースライド、高精度リードネジ、およびゼロバックラッシュのミニチュアギアDCサーボモーターを利用します。USBポートを通じて制御され,マイクロウェルプレートでサンプルを測定する際に理想的なステージです.

VistaVisionには、単一ポイント（FFS、寿命、極化）で自動測定のためのプロトコルが含まれています。ユーザーは、すべての井戸の連続的な測定を選択することができます。また、測定のために一連の井戸を選択することができる。

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